概述
創(chuàng )視新科技開(kāi)發(fā)隱裂檢測模塊可同時(shí)適用于單晶及多晶硅片的隱裂檢測，除正確檢出隱裂外，還可同時(shí)檢出破片，配合創(chuàng )視孔洞檢測模塊，還可有限檢出硅片孔洞。
創(chuàng )視新科技開(kāi)發(fā)隱裂檢測模塊可同時(shí)適用于單晶及多晶硅片的隱裂檢測，除正確檢出隱裂外，還可同時(shí)檢出破片，配合創(chuàng )視孔洞檢測模塊，還可有限檢出硅片孔洞。
- 硅片隱裂檢測設備
不論是在硅片車(chē)間，還是在電池車(chē)間，硅片隱裂的檢出都是一個(gè)難點(diǎn)，人工檢驗或者傳統的光學(xué)檢出無(wú)法滿(mǎn)足大量檢測的需求，且檢出率很低。
機器視覺(jué)公司創(chuàng )視新科技全力打造的隱裂檢測模塊，采用定制開(kāi)發(fā)的特殊光源，配合特殊檢測相機，可快速、準確檢測出隱裂部位，為人工或自動(dòng)化分選設備提供正確的信號。
創(chuàng )視新科技開(kāi)發(fā)隱裂檢測模塊可同時(shí)適用于單晶及多晶硅片的隱裂檢測，除正確檢出隱裂外，還可同時(shí)檢出破片，配合創(chuàng )視孔洞檢測模塊，還可有限檢出硅片孔洞。
隱裂檢測模塊為標準檢測模塊，可方便的集成入各類(lèi)硅片分選機中。除此之外，該模塊還可集成在各類(lèi)清洗上料設備中，在電池片生產(chǎn)開(kāi)始前剔除不良品。
創(chuàng )視隱裂檢測模塊基本參數：
| 可檢測微隱裂紋大小 | 20µm（W）x200µm（L） |
| 檢測光源 | LED燈 |
| CCD相機 | 4096pixel線(xiàn)掃描 |
| Pixel Size | 45µm |
| 視野大小 | 178mm×178mm |
| 檢測速度 | <1s/片 |
各類(lèi)檢出的硅片隱裂產(chǎn)品：
硅片隱裂檢測系統優(yōu)勢
● 全進(jìn)口工業(yè)相機及工業(yè)鏡頭
● 優(yōu)化設計集成式光源系統
● 便捷式標定及維護
● 可超過(guò)4000片每小時(shí)產(chǎn)能
● 結構穩定可靠，安裝支架精巧
● 菜單、參數簡(jiǎn)單明了，規格設置一目了然
● 全中文菜單及操作界面
● 適用于所有檢測分選設備
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